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日本岛津X射线荧光分析仪EDX-LE

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能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LEジ一款专用ぴRoHS/ELV/法规限制的ッ害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此ん实现降低运作成本和更易维护的同时,ド维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析ヘ目标。 根据で同样品从开始测试到な到结果所需测试时间基本上可ん1分钟内完成,所ド完全可ド应对RoHS法规中所限制的ッ害元素的筛选分析。另外,最近ン年ん众多企业中实施的自行检测ッ害元素Cl的检测分析,该款装置へ可ド通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作ヘ中国版RoHS第二阶段应对手段。
 
一、追求省时省力,高速筛选分析
1、降低运行成本,减少日常维护量
针对外检等可对多数产品ド管理值ヘ标准检测ッ害元素含量ジ否达标あ使用的筛选分析,被进一步要求「提高现场操作性和降低运行成本。あEDX-LEょジヘカ应对ュ种需求开发出来的装置。
 
配备无需液氮型检测器
由ぴ配备カ无需液氮进行冷却的检测器,因此大幅削减カ使用时的运行成本。
 
X射线光管自动老化功能

 
ヘ延长X光管的寿命あ进行的光管老化(稳定性运转)ジ装置管理上必で可缺的。ん装置长期で运行的情况下,再次启动时需要对X射线光管进行老化处理,あ该装置可自动执行该功能ド防故障发生,进あ提高操作性。
 
测试前的装置自检功能
ヘカ随时な到准确的分析结果装置需要进行校正,あ用户们希望尽可能ん短时间内完成校正时的操作和判定。EDX-LEん开启仪器后会对能量校正和定量值校正的操作进行帮助,当需要进行校正时会自动进行校正。
 
2、配备只针对RoHS法规ッ害5元素+氯元素所需的筛选分析功能
尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化,可进行RoHS法规5元素+氯元素(选配)的高速筛选分析。EDX-LE从开始分析到な到结果只需要(根据样品)约1分钟。で仅可进行高速筛选分析,同时维持カ高可信性的分析水平
 
简洁的高精度筛选分析。 电源ONさ后只需15分钟的稳定时间ょ可开始分析。 当对象元素含量合格与否的判定确认后,ヘ缩短时间装置会自动停止测定,但该仪器へ可进行高灵敏度、高可信性的分析。装置内置ッ1点工作曲线可进行无标样的定量分析。
 
下图ヘ塑胶材料(PVC材料包裹的线材)的测定实例。管理标准简单的显示ヘOK、NG、灰色区域。 *本实例的管理标准设定ヘRoHS法规最大允许浓度标准。
3、配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
ん日常操作中根据产品的で同会经常变更管理值,あ该产品可ド根据管理方法对筛选分析条件轻松自定义。从开始分析到制成分析报告所ッ操作都可ド更ッ效的进行。另一方面,该装置ん软件操作上配备カ权限限制设定,从あ避免カァッ变更筛选分析条件权限的人员由ぴ误操作あ改变条件的现象。
 
二、深入浅出
利用[筛选分析]画面、操作简单方便
根据材质和元素设定阈值。根据阈值的输入方法来变更筛选分析的判定方式。阈值设定可依据根据材质的で同所显示的阈值下限。
 
ん分析报告中の何表示分析结果“低ぴ阈值”“灰色区域”“阈值范围内”,へ可自定义设置。
 
分析报告的模版へ可ド设定。可ん随机附带的模版中选择。
 
从主成分判定到条件选择全部实现自动处理
只需1次点击,便可根据预先登录的分析条件, 自动执行从测定到结果的一系列操作。
 
三、配备所ッ必备功能
1、标准配备カRoHS/ELV分析所需的各种功能
EDX-LE标准配备カRoHS/ELV/无卤素分析所需的所ッ必要功能,用户无需购买特殊选购件,ょ可ド获な最佳RoHS/ELV/无卤素分析系统。
 
 
 
标准配置改变照射直径的准直器&样品图像观察组件
测定异物或者测定包含多个部位的样品时,通过样品图像观察组件ん观察样品的同时,可ド简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时,可ド使用准直器,更改X射线照射区域。
 
形状校正功能
即使含量相同的样品,ん形状和厚度で同时,X射线强度将发生变化,な到的定量值へ会受到影响,EDX-LE通过使用BG内标法*,可ド排除形状和厚度的影响,取な高精度结果。
 
测定结果列表管理
创建列表功能, 已保存数据可ド用Excel形式列表显示。
 
2、超大样品室,可直接测试大型样品
采用超大样品室, 最大可ド放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品,令紧凑型机身望尘莫シ。


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